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Software: Keithley erweitert die Palette der mit der ACS Basic Edition Software kompatiblen DC-Source/Measure-Instrumente
  
 

27.08.2009

Software: Keithley erweitert die Palette der mit der ACS Basic Edition Software
kompatiblen DC-Source/Measure-Instrumente

Keithley Instruments, Inc., ein weltweiter Anbieter von elektrischen Testinstrumenten und Systemen, hat seine eingeführte ACS Basic Edition Software erweitert und unterstützt nun eine größere Palette von Source-Measure (SMU) Instrumenten. Die größere Auswahl von kompatiblen Instrumenten erweist sich besonders im Hinblick auf die höheren Spannungs- und Stromgrenzwerte der Software beim Test von Solarzellen, Photovoltaik-Panels und diskreten Leistungshalbleitern als nützlich. Die ACS Basic Edition kombiniert eine schnelle Hardware-Steuerung, Geräteanbindung und Datenmanagement in einem einfach einsetzbaren Tool, das für die Bauteil-Verifikation, das Debugging und die Analyse optimiert ist.

Weitere Informationen dazu unter:

www.keithley.com/products/semiconductor/

Die Version 1.1 der ACS Basic Edition, die zur Automated Characterization Suite (ACS) Familie von Keithley gehört, unterstützt jetzt deutlich mehr DC-Spannungs- und Strom-Testmöglichkeiten. Sie ist kompatibel zum vollen SMU-Produktspektrum des Unternehmens, einem der derzeit größten Produktangebote in diesem Bereich am Markt. Je nach Art der ausgewählten SMUs unterstützt die ACS Basic Edition eine Einspeisung und Messung bis zu 5A oder 1100VDC auf den jeweiligen Kanälen. Die neu erweiterten Quellen- und Messbereiche eignen sich besonders für den Test von Photovoltaik-Panels, Solarzellen und Leistungselektronik in der Forschung, zur Ausfallsanalyse und für Inspektionsanwendungen. Die ACS Basic Edition unterstützt jetzt zudem die Kombination verschiedener SMU-Modelle in einem Test, was eine einfachere Konfiguration, Testerstellung und Testausführung – ohne die Erstellung von Code - erlaubt. Keithley hat die ACS Basic Edition entwickelt, um die Produktivität der Techniker und Ingenieure bei der Charakterisierung von gepackten Bauteilen zu maximieren - von der Bauteilforschung über die Entwicklung, die Qualitätsverifikation, bis hin zur Ausfallsanalyse. Sie enthält eine umfassende Bibliothek von vorkonfigurierten Bauteil-Testroutinen mit der sich die Vorbereitungszeit sowie die Entwicklung des Programmcodes verkürzen und der Testprozess vereinfachen lässt. So lässt sich ein Halbleiter-Bauelement innerhalb von Sekunden testen und die charakteristischen Kurven sofort mit Referenzkurven vergleichen. Wie ein konventioneller analoger Linienschreiber kann die ACS Basic Edition eine Kurvenschar für gepackten Bauteile generieren - bietet aber gleichzeitig die Flexibilität die Ergebnisse einfach abzuspeichern, zu vergleichen und zu korrelieren.

Die Version 1.1 des Pakets umfasst verschiedene neue und verbesserte Möglichkeiten:

• Erweiterte Hardware-Möglichkeiten: Die Software unterstützt jetzt die Kombination von Hardware verschiedener SMU-Familien von Keithley in einem Test, einschließlich der System-SourceMeter-Instrumente der Serie 2600 und 2600A, der SourceMeter Instrumente der Serie 2400, des Halbleiter-Charakterisierungs-Systems Modell 4200-SCS und des Hochspannungs-SMU Modell 237. Dies ermöglicht einen Test mit verschiedenen SMUs, die für die jeweiligen Strom- und Spannungsanforderungen der entsprechenden Bauteile optimiert wurden. Ein neues Kommunikationseinstellungsfenster erlaubt die Konfiguration verschiedener externer GPIB-Instrumente, wie einer Schaltmatrix, ein Kapazität-Spannungs-Messgerät (C-V), etc. in einem ACS Basic Edition System. Dies vereinfacht den produktiven Einsatz von zusätzlicher Messhardware, die bereits im Labor verfügbar ist.

• Höhere Testeinsparungen: Die ACS Basic Edition beinhaltet jetzt Tools, mit denen sich die Test nach Bauteilen und Instrumenten sortieren lassen, so dass sich Testalgorithmen einfacher abspeichern, modifizieren und in anderen Anwendungen wiederverwenden lassen. Eine neue "Saved Test Info" Dialogbox erlaubt die Auswahl der Instrumente, die im Test-Auswahlfenster dem jeweiligen Test zugeordnet wurden. Mit dieser Funktion können die Anwender ihren Test organisieren, während der Erfassung von Daten oder der Änderung der Testmethode.

• Aktualisierter Test-Auswahldialog: Zu den Verbesserungen dieses Dialogs gehören eine neue GENERIC-Bauteiloption, eine verbesserte Anwender-definierte Bauteilfunktion und eine neue Listenbox mit Instrumentenmodellen, die alle von der Software beim Start erfassten Instrumente umfasst.

• Einfachere Datendarstellung: Verbesserungen vereinfachen die Datendarstellung bei den Bauteiltests, da alle Daten, die der Anwender in ein Plot aufnehmen will, auf einmal eingebunden werden können.

• Verbesserung des Skript-Editors: Der Skript-Editor wurde ebenfalls verbessert und ermöglicht nun eine leistungsfähigere Entwicklung und Organisation der Skripts für unterschiedliche Testmodultypen. Der Anwender hat jetzt einen direkten Zugang zum XRCed GUI Entwicklungs-Tool, mit dem sich GUIs für kundenspezifische Testmodule in Python oder mit der Test Script Processor (TSP®) Sprache erstellen lassen. TSP Skripts funktionieren mit den Geräten der Serie 2600, Serie 2600A und dem Modell 3706. Python-Skripts lassen sich für eine Kommunikation mit diesen Instrumenten über GPIB sowie für die Steuerung von universeller Hardware nutzen.

Keithley Instruments, Inc., ein führender Anbieter von Lösungen für die Charakterisierung und den parametrischen Test von Halbleiter-Bauteilen, bietet seinen weltweiten Kunden verschiedene flexible Lösungen für I-V- (Strom/Spannung), C-V- (Kapazität-Spannung) und gepulste I-V-Messungen und Analysen. Die Produkte reichen von Tischgeräten bis hin zu schlüsselfertigen Systemen und werden in unterschiedlichsten Anwendungen, wie in der Materialanalyse, Bauteilcharakterisierung, Wafer-Level-Zuverlässigkeit und der Prozessüberwachung, eingesetzt. Keithley verfügt über ein Netz aus Servicezentren und Applikationsingenieuren mit umfassender Erfahrung im Bereich der Halbleitertechnologie und arbeitet weltweit sehr eng mit den Halbleiterherstellern zusammen.

Verfügbarkeit

Die ACS Basic Edition Version 1.1 ist ab sofort verfügbar. Weitere Informationen zur ACS Basic Edition Version 1.1 unter www.keithley.com/products/semiconductor/?mn=ACSBasicEdition oder direkt vom Unternehmen.

Ein kurzes Produktvideo ist verfügbar unter:

www.ggcomm.com/KEI/ACS/acs_819_v1.mov

Über Keithley
Mit einer Messtechnikerfahrung von mehr als 60 Jahren gehört Keithley Instruments zu den weltweit führenden Unternehmen für elektrische Testinstrumente und -systeme von DC bis RF. Die Produkte des Unternehmens werden in der Produktion, Prozessüberwachung, Produktentwicklung und Forschung eingesetzt. Zu den Kunden des Unternehmens gehören Wissenschaftler und Ingenieure in der weltweiten Elektronikindustrie, die sich mit Materialforschung, der Charakterisierung von Halbleiterbauteilen und Wafern, sowie der Produktion von Endprodukten wie elektronischen Baugruppen oder portablen drahtlosen Geräten befassen. Keithley bietet seinen Kunden eine Kombination aus Präzisionsmesstechnik und umfassender Anwendungserfahrungen, die Qualität, Durchsatz und Fertigungsausbeute verbessern können.

www.keithley.com

 

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